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日本JSD半導體薄膜研磨加工激光檢查裝置利用激光指向性強、反射形狀穩定的特性,通過解析反射光形狀,結合獨自算法將研磨狀態轉化為 0~255 的數值(數值越接近 0,研磨狀態越好),同時可換算出小數點后 3 位的表面粗糙度值(單位:微米),實現研磨品質的精準量化。
產品型號:LIMA01
廠商性質:經銷商
更新時間:2025-11-12
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日本JSD半導體薄膜研磨加工激光檢查裝置
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