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高重復性非接觸離線分光干涉式測厚儀TOF-S 是一款桌面型離線分光干涉式厚度測量裝置,主要用于測量電子、光學用透明平滑薄膜和多層薄膜的厚度。實現高重復性測量,精度可達±0.01微米以下(取決于被測物和測量條件)。溫度穩定性:受溫度變化影響小,適合在不同環境條件下使用。非接觸式測量:采用分光干涉式原理,無需接觸被測物,減少對被測物的損傷。可以從薄膜的一側進行測量,適合測量透明涂膜
產品型號:TOF-S
廠商性質:經銷商
更新時間:2025-10-22
訪 問 量:95
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高重復性非接觸離線分光干涉式測厚儀
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